在对试品检验化学构成元素中，运用X荧光光谱仪设备，而有关X荧光光谱仪定性分析的操作方法，下面有有关介紹。

X射线荧光光谱法进行定性分析的依据是元素的荧光X射线強度Ii与试件中该元素的含量Ci正相关:Ii=Is×Ci式中Is为Ci=100%时，该元素的荧光X射线的強度。

依据上式，可以选用标准曲线法、增量法、内标法等进行定性分析?？墒钦庵址绞蕉夹枰贡曜际云返墓钩捎胧约墓钩删×肯嗤蚶嗨?，要不然试件的基体效应就是指试品的基本化学构成和物理化学状态的变化对X射线荧光強度所造成的影响。

化学构成的变化，会影响试品对一次X射线和X射线荧光的吸收，也会转变荧光增强效应。比如，在测量不锈钢中Fe和Ni等元素时，由于一次X射线的激发会形成Nika荧光X射线，Nika在试品中可能被Fe吸收，使Fe激发形成Feka。测量Ni时，由于Fe的吸收效应使結果稍低，测量Fe时，由于荧光增强效应使結果较高。